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GA/T 490-2019 居民身份證機(jī)讀信息規(guī)范
2022-03-23 19:08標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)--中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)
Analysis_and_Design_of_Analog_Integrated_Circuits
2022-03-23 16:30電路設(shè)計(jì)
CMOS_Circuit_Design__Layout__and_Simulation
2022-03-23 16:26電路設(shè)計(jì)
Analog Circuit Design (RF Circuits)
2022-03-23 16:26電路設(shè)計(jì)
EMI Filter Design
2022-03-23 16:24電路設(shè)計(jì)
Radio Frequency Circuit Design
2022-03-23 16:23電路設(shè)計(jì)
GB/T 17626.34-2012 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn)
2022-03-23 16:03標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)--中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 17626.30-2012電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電能質(zhì)量測(cè)量方法
2022-03-23 16:02標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)--中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 17626.24-2012 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) HEMP傳導(dǎo)騷擾保護(hù)裝置的試驗(yàn)方法
2022-03-23 16:01標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)--中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 17626.22-2017 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 全電波暗室中的輻射發(fā)射和抗擾度測(cè)試
2022-03-23 16:01標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)--中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 17626.21-2014 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 混波室試驗(yàn)方法
2022-03-23 16:00標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)--中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 17626.20—2014 電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)橫電磁波(TEM)波導(dǎo)中的發(fā)射和抗擾度試驗(yàn)
2022-03-23 15:59標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)--中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 17626.18-2016電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)阻尼振蕩波抗擾度試驗(yàn)
2022-03-23 15:58標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)--中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 17626.15-2011 閃爍儀功能和設(shè)計(jì)規(guī)范
2022-03-23 15:57標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)--中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 17626.14-2005 電壓波動(dòng)抗擾度試驗(yàn)
2022-03-23 15:56標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)--中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)